Open AccessCaractérisation de l’usure des composants électroniques et estimation de leur durée de fonctionnement avant défaillance (RUL : Remaining Useful Life)
Author(s) -
Andrûˋ Cabarbaye,
Aurûˋlien Cabarbaye,
Alain Bensoussan,
O. Gilard,
Lip Sun How,
Fabio Coccetti
Publication year - 2020
Publication title -
hal (le centre pour la communication scientifique directe)
Language(s) - French
Resource type - Conference proceedings
Subject(s) - computer science