
Modelando la dinámica de un cantiléver de Microscopia de Fuerza Atómica AFM
Author(s) -
Jesús Matamoros,
José Vega Baudrit
Publication year - 2013
Publication title -
revista científica
Language(s) - Spanish
Resource type - Journals
eISSN - 2224-5545
pISSN - 2070-8246
DOI - 10.54495/rev.cientifica.v23i1.114
Subject(s) - humanities , mica , atomic force microscopy , physics , materials science , philosophy , nanotechnology , composite material
Parte de la investigación científica actual involucra el empleo de diversas herramientas computacionales, tanto teóricas como de experimentación. La simulación computacional puede brindar acercamientos valiosos a la resolución de problemas científicos. La microscopía de fuerza atómica (AFM) constituye una de las técnicas de microscopía de sonda local; busca escanear las fuerzas interatómicas que pueden establecerse entre una muestra y una sonda. El movimiento oscilatorio del cantiléver se puede modelar matemáticamente utilizando los primeros armónicos de la ecuación de un oscilador armónico forzado con amortiguamiento. El hecho de que sea posible modelar matemáticamente permite que ambos comportamientos puedan ser programados y computados para la predicción del comportamiento físico a nivel teórico.