Open AccessИЗУЧЕНИЕ СПЕКТРОВ ХАРАКТЕРИСТИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ЭНЕРГИИ СВОБОДНЫХ НАНОПЛЕНОЧНЫХ СИСТЕМ Si-Cu
Author(s) -
И.О. Касимов,
Б.Е. Умирзаков,
З.А. Исаханов,
М.К. Рузибаева,
Р. Курбанов
Publication year - 2019
Publication title -
uzbek journal of physics
Language(s) - Russian
Resource type - Journals
ISSN - 2181-077X
DOI - 10.52304/.v21i3.75
Subject(s) - materials science , chemistry
В работе приведены экспериментальные результаты, полученные методом спектроскопии характеристических потерь энергии электронами (СХПЭЭ), по изучению состава, электронной структуры Cu(100) с поверхностной нанопленкой Si различной толщины (dSi≈50−400 Å). Показано, что плотности состояний валентных электронов толстой и свободной тонкой пленок заметно отличаются друг от друга.