Open AccessТЕОРЕТИЧНЕ ПРОЕКТУВАННЯ ДЕФЕКТОСКОПА ДЛЯ ВИЗНАЧЕННЯ ПАРАМЕТРІВ ІНТЕГРАЛЬНИХ МІКРОСХЕМ
Author(s) -
Юрій Васильєв,
Ганна Сахарова
Publication year - 2021
Publication title -
interconf
Language(s) - Ukrainian
Resource type - Journals
ISSN - 2709-4685
DOI - 10.51582/interconf.19-20.07.2021.042
Subject(s) - philosophy
Спроектований пристрій є дефектоскопом, в основі якого – магнітопорошковий метод, на постійних магнітах з елементами оптимізації у вигляді лазеру. За допомогою цього пристрою можна проводити процедуру визначення параметрів інтегральних мікросхем.