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Análise da influência técnica da arquitetura, frequência de testes e tempo médio entre reparo na disponibilidade de um high integrity pressure protection system
Author(s) -
João Paulo Costa e Silva Nunes,
Leandro de Medeiros Dantas,
Lucas Araújo dos Santos,
Priscila Valessa Pinheiro Gomes,
Tiago de Oliveira Barreto,
Herbert Ricardo Garcia Viana
Publication year - 2020
Publication title -
revista gestão industrial
Language(s) - Portuguese
Resource type - Journals
ISSN - 1808-0448
DOI - 10.3895/gi.v16n1.10385
Subject(s) - physics , humanities , philosophy
Diante da contribuição dos sistemas Instrumentados de Segurança (SIS), em especial os sistemas de alta integridade para proteção à alta pressão (HIPPS), permitindo que diferentes processos sejam levados à níveis cada vez mais seguros, o presente estudo buscou analisar a disponibilidade de um HIPPS em diferentes configurações por meio da influência da arquitetura dos seus componentes, frequências de testes e tempo médio entre os reparos. Para tanto, nos procedimentos metodológicos, foi definido um modelo base de arquitetura para posteriormente serem analisadas diferentes propostas. Tais análises foram subsidiadas pela identificação das variáveis no manual de dados “Reliability data for Safety Instrumented Systems” e modelagens matemáticas realizadas por meio de equações propostas no manual do método PDS “Reliability Prediction Method for Safety Instrumented Systems PDS Method Handbook, 2010 Edition”, podendo, assim, realizar análises comparativas de tais influências. Como achados da pesquisa, está a verificação de que, de acordo com os cenários estudados, as medidas de tempo médio para reparo e frequência de testes se mostraram mais representativas para a indisponibilidade do sistema do que as variações de arranjos. E, ainda, que o aumento da frequência de teste fomenta a elevação do PFD de falhas independentes; assim como o HIPPs na filosofia degradada, em geral, apresentou uma contribuição muito baixa, sendo irrisória para a análise final da disponibilidade do sistema. Entretanto, quando elevado o MTTR, tais falhas mostram suas importâncias para tais funções. Por fim, como suposto por Marszal e Scharpf (2002), confirmou-se que acionamentos espúrios são mais relevantes em arquiteturas redundantes, independente de tempos de testes e tempos entre reparos.

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