z-logo
open-access-imgOpen Access
Исследование сверхрешёток {InGaAs/InAlAs}, выращенных в низкотемпературном режиме на подложках InP (100) и (111)А методами электронной микроскопии
Author(s) -
И.Н. Трунькин,
С.С. Пушкарев,
А.Н. Клочков,
Е.А. Климов,
Г.Б. Галиев
Publication year - 2020
Publication title -
xxviii российская конференция по электронной микроскопии и vi школа молодых учёных "современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов"
Language(s) - Uncategorized
Resource type - Conference proceedings
DOI - 10.37795/rcem.2020.65.99.027
Subject(s) - gallium arsenide , optoelectronics , materials science , computer science

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.
Having issues? You can contact us here