
Микроструктурный анализ сверхпроводящих лент второго поколения на основе (Re)BCO с искусственными центрами пиннинга различной природы
Author(s) -
А.В. Овчаров,
Е.И. Суворова,
И.А. Каратеев,
П.Н. Дегтяренко,
В.Н. Чепиков,
А.Р. Кауль,
А.Л. Васильев
Publication year - 2020
Publication title -
xxviii российская конференция по электронной микроскопии и vi школа молодых учёных "современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов"
Language(s) - Uncategorized
Resource type - Conference proceedings
DOI - 10.37795/rcem.2020.64.36.011
Subject(s) - computer science