Open AccessМетоды пробоподготовки материалов сфокусированным ионным пучком для аттестации их структурно-фазового состояния после имитационного облучения ионами в ускорителе с помощью электронной микроскопии
Author(s) -
Е.А. Васильева,
С.Н. Петров,
М.С. Михайлов,
Б.З. Марголин
Publication year - 2020
Publication title -
xxviii российская конференция по электронной микроскопии и vi школа молодых учёных "современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов"
Language(s) - Uncategorized
Resource type - Conference proceedings
DOI - 10.37795/rcem.2020.56.49.059
Subject(s) - computer science