z-logo
open-access-imgOpen Access
Электронно-микроскопическое изучение наночастиц β-NaYF4, полученных методом высокоэнергетического помола
Author(s) -
А.В. Кошелев,
Н.А. Ивановская,
Е.В. Хайдуков,
Н.А. Архарова,
Д.Н. Каримов
Publication year - 2020
Publication title -
xxviii российская конференция по электронной микроскопии и vi школа молодых учёных "современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов"
Language(s) - Uncategorized
Resource type - Conference proceedings
DOI - 10.37795/rcem.2020.51.97.021
Subject(s) - computer science

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.
Having issues? You can contact us here