Open AccessСтруктура и свойства субмикронных пленок ЦТС с градиентом состава по толщине
Author(s) -
В.П. Пронин,
М.В. Старицын,
А.Р. Валеева
Publication year - 2020
Publication title -
xxviii российская конференция по электронной микроскопии и vi школа молодых учёных "современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов"
Language(s) - Uncategorized
Resource type - Conference proceedings
DOI - 10.37795/rcem.2020.39.57.042
Subject(s) - computer science