
Исследование сверхтонких плёнок цинка и оксида цинка, полученных методом лазерной абляции, с помощью сканирующей электронной микроскопии
Author(s) -
Н.Б. Леонов,
В.А. Полищук,
В.В. Томаев,
Т.А. Вартанян
Publication year - 2020
Publication title -
xxviii российская конференция по электронной микроскопии и vi школа молодых учёных "современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов"
Language(s) - Uncategorized
Resource type - Conference proceedings
DOI - 10.37795/rcem.2020.24.80.063
Subject(s) - computer science