z-logo
open-access-imgOpen Access
Дослідження аморфних халькогенідних матеріалів елементів пам’яті на основі фазових переходів
Author(s) -
V. K. Kyrylenko,
V. M. Marjan,
M. O. Durkot,
V. M. Rubish
Publication year - 2014
Publication title -
reêstracìâ, zberìgannâ ì obrobka danih
Language(s) - Ukrainian
Resource type - Journals
eISSN - 2522-4689
pISSN - 1560-9189
DOI - 10.35681/1560-9189.2014.16.2.100252
Subject(s) - computer science
Розроблено стенд, який дозволяє одночасно вимірювати температурні залежності електричного опору (R) та оптичного пропускання (в) плівок у ділянці температур 300-560 К. Досліджено температурні залежності R та в аморфних плівок системи сурма-селен. Показано, що їхня кристалізація супроводжується різким зменшенням цих параметрів. Температурний інтервал переходу плівок з аморфного стану в кристалічний залежить від складу плівок, матеріалу контактів та умов термообробки.

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.
Having issues? You can contact us here