Open AccessNi-Ti Akıllı Alaşım İnce Filmin Sıcaklığa Bağlı X-Ray Kırınımı ile Karakterizasyonu ve Faz Dönüşümü Tespiti
Author(s) -
M. Mete Öztürk,
Bahadır Doğan
Publication year - 2019
Publication title -
bilecik şeyh edebali üniversi̇tesi fen bilimleri dergisi
Language(s) - Turkish
Resource type - Journals
ISSN - 2458-7575
DOI - 10.35193/bseufbd.549878
Subject(s) - physics , nuclear chemistry , chemistry