z-logo
open-access-imgOpen Access
Моделирование методом Монте-Карло структуры поверхности эпитаксиального слоя Si, выращенного в условиях МЛЭ / Арапкина Л.В.
Publication year - 2019
Publication title -
тезисы докладов xiv российской конференции по физике полупроводников «полупроводники-2019»
Language(s) - Uncategorized
DOI - 10.34077/semicond2019-89
Subject(s) - materials science

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.
Having issues? You can contact us here