Травление поверхности Si(111) при взаимодействии с молекулярным пучком селена / Пономарев С.А., Рогило Д.И., Федина Л.И., Щеглов Д.В., Латышев А.В.
Publication year - 2019
Publication title -
тезисы докладов xiv российской конференции по физике полупроводников «полупроводники-2019»
Language(s) - Russian
DOI - 10.34077/semicond2019-80
Subject(s) - in situ , silicon , crystallography , materials science , chemistry , analytical chemistry (journal) , metallurgy , environmental chemistry , organic chemistry
Изучение способов синтеза тонких пленок халькогенидов металлов на различныхполупроводниковых подложках и их свойств является динамично развивающимся направлениемфизики конденсированного состояния. Атомы халькогена (Se), адсорбция которых являетсянеобходимым этапом подготовки подложки, сильно взаимодействуют с поверхностью кремния иослабляют ковалентные связи поверхностных атомов Si [1]. При повышенных температурах этоприводит к формированию и десорбции молекул SiSe2 при взаимодействии поверхности Si(111) смолекулярным пучком Se [2], но эволюция морфологииповерхности в таких условиях до сих пор еще неизучалась.В данной работе методом in situсверхвысоковакуумной отражательной электронноймикроскопии (СВВ ОЭМ) исследовано взаимодействиемолекулярного пучка Se с поверхностью Si(111) прискоростях осаждения до 10 БС/с и температурах подложкив интервале 560–1280°С. В процессе in situ экспериментанаблюдались зарождение двумерных (2D) вакансионныхостровков и смещение атомных ступеней в направлениивышележащих террас. Эти процессы соответствуюттравлению поверхности Si(111) молекулярным пучком Se.Ex situ анализ морфологии поверхности образцов Si(111)методом атомно-силовой микроскопии (АСМ)демонстрирует зарождение вакансионных 2D островков нашироких террасах и извилистую форму ступеней,взаимодействующих с ними.Методом дифракции быстрых электронов на отражение изучены структурные переходы наповерхности Si(111) при взаимодействии с молекулярным пучком Se. В зависимости от скороститравления поверхности, регистрируемой при 800°С, измерена температура фазового переходаповерхности от сверхструктуры 7×7 к поверхностной примесно-индуцированной фазе 1×1-Se,соответствующей покрытию 0.25 БС Se. Кроме того, измерена зависимость скорости травлениякремния, равной потоку десорбирующих молекул SiSe2, от температуры данного сверхструктурногоперехода 7×7⇔1×1-Se. Построена фазовая диаграмма структуры поверхности (1×1-Se,сверхструктура 7×7, либо "1×1" выше 830°C) в зависимости от температуры подложки (530–1250°С)и скорости осаждения Se (до ~1 БС/с). Обнаружено понижение температуры сверхструктурногоперехода "1×1"⇔7×7 вблизи 830°С при взаимодействии молекулярного пучка Se с вицинальнойповерхностью Si(111) и повышение температуры перехода в центральных областях широких террас.
Accelerating Research
Robert Robinson Avenue,
Oxford Science Park, Oxford
OX4 4GP, United Kingdom
Address
John Eccles HouseRobert Robinson Avenue,
Oxford Science Park, Oxford
OX4 4GP, United Kingdom