z-logo
open-access-imgOpen Access
Микроструктура нановключений AsSb в плазмонном метаматериале LTG-AlGaAsSb / Берт Н.А., Чалдышев В.В., Черкашин Н.А., Неведомский В.Н., Преображенский В.В., Путяято М.А., Семягин Б.Р., Ушанов В.И., Яговкина М.А
Publication year - 2019
Publication title -
тезисы докладов xiv российской конференции по физике полупроводников «полупроводники-2019»
Language(s) - Russian
DOI - 10.34077/semicond2019-72
Subject(s) - gallium arsenide , materials science , optoelectronics
Оптические свойства ансамблей металлических наночастиц в диэлектрической матрицепривлекают возрастающее внимание из-за перспектив их применения в плазмонике,оптоэлектронике, катализе и биомедицине [1]. Для ряда применений требуется, чтобы методыполучения таких метаматериалов были совместимы со стандартной технологией полупроводниковойэлектроники. Одним из таких методов является низкотемпературная МПЭ, позволяющая получатьнестехиометрические материалы на основе GaAs (LTG-GaAs), в которых при последующем отжигеформируются металлические нановключения [2]. В выращенном по такой технологии LTG-AlGaAsSbс хаотическим распределением включений AsSb в оптическом поглощении регистрировалсяплазмонный резонанс [3].Объектом исследования являлись 1-мкм эпитаксиальные пленки Al0.28Ga0.72As0.972Sb0.028,полученные методом МПЭ на подложке GaAs(001) при 200°С и отожженные в течение 15 мин при600°С или 750°С. Микроструктура полученных образцов исследовалась методами электронноймикроскопии на приборе JEM-2100F и рентгеновской дифракции на установке Bruker D8 Discover.Обнаружено, что нановключения наряду с As содержат неожиданно высокое содержание Sb (до90%), несмотря на весьма низкуюее концентрацию в матрице.Микроструктура нановключений,сформированных притемпературах отжига 600°С или750°С радикально различалась.Установлено, что при 750°Сотжиге формируютсянановключения As0.1Sb0.9 размеромоколо 15 нм с ромбоэдрическоймикроструктурой A7, характернойдля элементов V группы (As, Sb,Bi) в нормальных условиях. Ориентационные соотношения их с матрицей соответствуют(0003)incl || {111}m и [2̅ 110]incl || m. Отжиг при 600°С имеет следствием формированиенановключений с признаками кубической фазы.Обогащение нановключений AsSb сурьмой объясняется на основе фазовой диаграммы жидкоетвердое системы Ga-As-Sb, а возможность их кристаллизации в кубической модификацииобсуждается в рамках существования фаз высокого давления [4].

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.
Having issues? You can contact us here
Accelerating Research

Address

John Eccles House
Robert Robinson Avenue,
Oxford Science Park, Oxford
OX4 4GP, United Kingdom