z-logo
open-access-imgOpen Access
Формирование упорядоченных дисков Ge на поверхности SiO2 / Уткин Д.Е., Шкляев А.А.
Publication year - 2019
Publication title -
тезисы докладов xiv российской конференции по физике полупроводников «полупроводники-2019»
Language(s) - Russian
DOI - 10.34077/semicond2019-413
Subject(s) - lift (data mining) , germanium , materials science , crystallography , chemistry , optoelectronics , silicon , computer science , data mining
Массивы упорядоченных дисков из материалов с высоким показателем преломления n,синтезированные, например, на поверхности плёнки SiO2, позволяют управлять рассеяниемэлектромагнитного излучения за счёт возбуждения в них электрических и магнитных резонансовсогласно теории Ми в условиях, когда выполняется соотношение =nd, где - длина волныизлучения и d – размер частицы. Материалом для таких частиц принято использовать Si. В то жевремя, Ge характеризуется большим значением n и может оказаться более эффективным материалом,чем Si в видимой и ближней ИК-области спектра. Нами разрабатывается технология изготовлениямассивов упорядоченных дисков Ge на поверхности плёнки SiO2.С помощью литографии остросфокусированным пучком электронов (RAITH Pioneer) намисоздавалась маска из PMMA резиста, которая задавала латеральные размеры, форму и периодичностьрасположения дисков Ge. Затем на образец с маской осаждался слой Ge заданной толщины прикомнатной температуре в сверхвысоковакуумной камере установки фирмы Omicron. Далеепроводился процесс взрывной литографии в диметилформамиде в ультразвуковой ванне, то есть, проводился так называемый процесс lift-off. В результате на поверхности плёнки SiO2 получалисьмассивы упорядоченных дисков Ge с заданными геометрическим параметрами (Рис. 1).Наблюдаемый в микроскоп цветовой эффект (голубой, жёлтый и сине-зеленый окрас) при рассеяниибелого света (светодиодной лампы осветителя микроскопа) на дисках Ge связан c возбуждением вних электрических и магнитных резонансов, а также эффектов интерференции, и зависит, вчастности, от их диаметра и расстояния между ними.Важно отметить, что разрабатываемый нами метод позволит получать плотно упакованныедиски Ge заданного размера от 100 нм с расстоянием между ними менее 100 нм. Получение близкорасположенных массивов обеспечит возможность изучения коллективных эффектов взаимодействиямод рассеянного резонансного излучения и его воздействия на оптоэлектронные свойства подложки.

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.
Having issues? You can contact us here