z-logo
open-access-imgOpen Access
Фоточуствительность Au-Ga2O3(Fe)-n-GaP наноструктур в УФ области спектра / Мелебаев Д.
Author(s) -
Мелебаев Туркменский
Publication year - 2019
Publication title -
тезисы докладов xiv российской конференции по физике полупроводников «полупроводники-2019»
Language(s) - Russian
DOI - 10.34077/semicond2019-408
Subject(s) - band gap , materials science , chemistry , crystallography , optoelectronics
В последнее время в связи с требованиями медицины, биологии и проблемой «озоновой дыры»усилился интерес к полупроводниковым фотоприемникам (ФП) ультрафиолетового (УФ) диапазонаспектра [1]. Наиболее перспективными приборами в этом спектральном диапазоне является ФП наоснове структур металл (М) - диэлектрик (Д) - полупроводник (П) с барьером Шоттки. В работе [2]исследованием фоточувствительных (ФЧ) Аи-окисел-n-GaP наноструктур в УФ области спектраобнаружены новые закономерности. В длинноволновой части спектра наблюдено максимумhνm=2,35 эВ, а в коротковолновой части спектра при hν>5.1 эВ наблюдено рост ФЧ с увеличением hν.Однако, в указанном работе не было установлено природы длинноволнового максимума и причиныроста коротковолнового роста lfo при hν>5,l эВ.Настоящая работа посвящена изучению этого вопроса. Для выяснения влияния оксида железа(Fe2O3) на спектр фототока барьеров Шоттки созданы два типа GaP МДП структур. В одном случае в структуре не содержится оксида железа, в другом случае в структуре содержится Fe2O3. Наноструктуры Au-Ga2O3(Fe) – n – GaP были изготовлены методом химическогоосаждения. Присутствие атомов железа в оксидном слое Ga2O3(Fe) было установлено с помощьюрастрового микроскопа и фотоэлектрическим методом. Показано EDX – спектр структурыAu-Ga2O3(Fe) – n – GaP, покрытой кремнием. Характеристические пики Fe подтверждают наличиежелеза в оксидном слое.Новые закономерности, обнаруженные фотоэлектрическим методом, также неожиданнопроявляются в ВАХ и ВФХ наноструктур Au-Ga2O3(Fe) – n – GaP. Выяснилось, что оксидный слойсостоит из двух составляющих : Fe2O3 и Ga2O3 (Fe) и слой оксида участвует в создании дополнительного фототока. С использованием зависимости и If01/2 от hν как длинноволновой (hν = 2,0-2,4 эВ) так и коротковолновой (hν = 5,2-6,2 эВ) части спектра были определены ЕgOx для Fe2O3 и Ga2O3 (Fe)оказалось равным ЕgOx = 2,1 эВ и ЕgOx = 5,5 эВ при 300 К соответственно. Таким образом,обнаруженные явления в ФЧ GaP MДП наноструктур позволяют создать новые типыфотоприемников ультрафиолетового излучения для практического применения.

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.
Having issues? You can contact us here