z-logo
open-access-imgOpen Access
Диагностика многослойных структур на основе органических полупроводников при помощи методов спектроскопии адмиттанса и переходной электролюминесценции / Войцеховский А.В., Несмелов С.Н., Дзядух С.М., Коханенко А.П., Копылова Т.Н., Дегтяренко К.М.
Publication year - 2019
Publication title -
тезисы докладов xiv российской конференции по физике полупроводников «полупроводники-2019»
Language(s) - Russian
DOI - 10.34077/semicond2019-373
Subject(s) - materials science
Исследования электрофизических свойств многослойных органических и органонеорганических систем актуальны из-за возможностей разработки новых приборов (например,органических светодиодов (ОСИД), солнечных элементов, тонкопленочных транзисторов) срасширенными функциональными возможностями и относительно недорогой технологией [1].Важным методом получения информации о процессах в органических и органо-неорганическихструктурах является измерение адмиттанса (илиимпеданса) при различных условиях [2–4]. В работеобобщаются результаты экспериментальныхисследований частотных, температурных и полевыхзависимостей адмиттанса органо-неорганическихструктур на основе пентацена с диэлектриками SiO2 иSiO2/Ga2O3 (в конфигурации МДП), а также ОСИДструктур с эмиссионным слоем из вещества ЯК-203 –(2-N,2-N,8-N-тетракис(4-метоксифенил)-(дибензотиофен-5,5-диоксид)-2,8-диамин).При изучении МДП-структур на основепентацена показано, что при температурах, близких ккомнатной, минимальные значения емкости на вольтфарадных характеристиках (ВФХ) структуропределяются образованием инверсионного слоя.Кинетика образования инверсионного слояопределяется температурой и типом подложки(SiO2/Ga2O3 или SiO2). Концентрация дырок в пентацене определена по формуле Мотта-Шоттки приразных частотах и температурах. На температурной зависимости приведенной проводимостинаблюдаются максимумы (Рис.1), которые вызваны перезарядкой ловушек в объеме пентацена.Свойства ОСИД-структур изучались при помощи методов вольтамперных характеристик, адмиттансаи переходной электролюминесценции. Обсуждаются частотные и температурные зависимостиадмиттанса при различных напряжениях смещения. Подвижность носителей заряда определялась изрезультатов измерения частотных зависимостей мнимой части импеданса структур [4]. Подвижностьносителей заряда возрастает при увеличении напряженности электрического поля в образце, ноуменьшается при охлаждении структуры. Значения подвижности, найденные из измеренийимпеданса, почти на порядок меньше значений, определенных методом переходнойэлектролюминесценции.

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.
Having issues? You can contact us here