
Возможности характеризации кристаллических параметров подложечного материала и структур CdхHg1-xTe методом генерации на отражение второй гармоники зондирующего излучения / Ступак М.Ф., Михайлов Н.Н., Дворецкий С.А., Якушев М.В., Икусов Д.Г., Макаров С.Н., Елесин А.Г., Верхогляд А.Г.
Publication year - 2019
Publication title -
тезисы докладов xiv российской конференции по физике полупроводников «полупроводники-2019»
Language(s) - Uncategorized
DOI - 10.34077/semicond2019-182
Subject(s) - chemistry , physics , materials science