Возможности характеризации кристаллических параметров подложечного материала и структур CdхHg1-xTe методом генерации на отражение второй гармоники зондирующего излучения / Ступак М.Ф., Михайлов Н.Н., Дворецкий С.А., Якушев М.В., Икусов Д.Г., Макаров С.Н., Елесин А.Г., Верхогляд А.Г.