z-logo
open-access-imgOpen Access
Моделирование с помощью молекулярной динамики низкотемпературной реконструкции поверхности (001) GaAs / Прасолов Н.Д., Гуткин А.А., Брунков П.Н.
Publication year - 2019
Publication title -
тезисы докладов xiv российской конференции по физике полупроводников «полупроводники-2019»
Language(s) - Russian
DOI - 10.34077/semicond2019-125
Subject(s) - materials science , gallium arsenide , optoelectronics
С развитием нанотехнологий значительное внимание уделяется исследованию изменениясвойств поверхности кристаллических материалов методом наноиндентации, то есть вдавливаниемтвердого тонкого зонда (индентора) на глубину в несколько нм [1]. Обнаружено, что в этихполупроводниковых материалах, наноиндентирование вызывает формирование новых фазовыхкристаллических состояний в деформированной областина глубине нескольких атомных слоёв от поверхности.Эти фазы в Ge [2] и Si [3] сохранялись и после отводазонда от поверхности материала при не слишкомвысоких температурах, в то время как в GaAsформирование фазы было обратимым, несмотря на то,что моделирование производилось при температуреблизкой к 0 К [4]. Влияние наноиндентирования нареконструкцию поверхности ранее не исследовалось.Данная работа посвящена исследованию методамимолекулярной динамики (МД) реконструкции атомныхслоев на поверхности (001) GaAs в процессенаноиндентирования при температурах 1–15 К.Установлено, что в области температур 1–15 Кпосле выдержки при постоянной температуре в течение200 пс до начала индентирования реконструкцииповерхности GaAs не наблюдается и верхний слойсостоит из атомов As, образующих квадратную решетку(1 × 1). Припогружении индентора на некоторую глубину наповерхности GaAs в области индентирования атомы Asначинают образовывать димеры, количество идлина цепочек которых увеличиваются с глубинойиндентирования, что приводит к образованию области реконструкции поверхности, в которойнаблюдается (1 × 2) структура.Расчеты методом МД, проведенные без воздействия индентора, при температурах 32–45 Kпоказали термически активированное образование димеров атомов As на исследуемой поверхности.Энергия активации формирования поверхностного димера As заметно ниже 0.1 эВ, в то время как дляего диссоциации требуется затратить энергию около 2 эВ. Последнее и объясняет стабильностьреконструкции поверхности GaAs (001) с образованием димеров атомов As при повышенныхтемпературах.

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.
Having issues? You can contact us here