Определение частотно-контрастной характеристики ИК объективов
Author(s) -
В. В. Васильев,
А. В. Вишняков,
Г. Ю. Сидоров
Publication year - 2021
Publication title -
фотоника-2021 : тезисы докладов российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники
Language(s) - Russian
DOI - 10.34077/rcsp2021-54
Subject(s) - computer science
В настоящей работе предложен метод определения ЧКХ ИК- объектива, в которомиспользуется матричный ИК- фотоприемник совместно с помещенным на него напыленнымна кремниевую подложку металлическим экраном с протравленными узкими апертурнымищелями, ширина которых меньше ширины пятна Эйри. В этом случае пространственноеразрешение апертурированного фотоприемника определяется шириной щелей.
Accelerating Research
Robert Robinson Avenue,
Oxford Science Park, Oxford
OX4 4GP, United Kingdom
Address
John Eccles HouseRobert Robinson Avenue,
Oxford Science Park, Oxford
OX4 4GP, United Kingdom