Полуэмпирическая формула для оценки эффективной длины диффузии фотогенерированных носителей заряда в фотоприемных КРТ-матрицах с квадратными диодами в условиях сканирования линейного пятна засветки диодом при максимальном отборе фототока из абсорбера
Author(s) -
В.А. Стучинский,
А. В. Вишняков
Publication year - 2021
Publication title -
фотоника-2021 : тезисы докладов российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники
Language(s) - Russian
DOI - 10.34077/rcsp2021-158
Subject(s) - environmental science
Знание величин длин диффузии фотогенерированных носителей заряда (ФНЗ) в фотоприемныхматрицах на основе материала кадмий-ртуть-теллур (КРТ) в разных режимах работы таких матрицважно как для анализа фотоэлектрических процессов в фотоприемных приборных структурах, так идля понимания того, какие факторы и каким образом определяют значения приборных характеристиксоответствующих фотоприемных устройств.
Accelerating Research
Robert Robinson Avenue,
Oxford Science Park, Oxford
OX4 4GP, United Kingdom
Address
John Eccles HouseRobert Robinson Avenue,
Oxford Science Park, Oxford
OX4 4GP, United Kingdom