z-logo
open-access-imgOpen Access
Супер-разрешение без микросканирования: восстановление субпиксельных изображений из фотосигналов окрестных диодов матрицы как некорректно поставленная задача
Author(s) -
В.А. Стучинский,
А.В. Вишняков
Publication year - 2021
Publication title -
фотоника-2021 : тезисы докладов российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники
Language(s) - Russian
DOI - 10.34077/rcsp2021-144
Subject(s) - political science
В настоящей работе изучался следующий алгоритм восстановления СИ в фотоприемных матрицах,базирующийся на использовании в них фотоэлектрической связи между фотоэлементами. Полагаем,что подлежащее регистрации изображение сосредоточено в области между четырьмя диодамиматрицы. Мы разбиваем эту область на 4x4 квадратных площадок, - и, моделируя диффузиюфотогенерированных носителей заряда (ФНЗ) в матрице методом Монте-Карло [1], вычисляемфотосигналы 4x4 окрестных диодов при однородном освещении светом каждой из площадок. Приосвещении фрагмента матрицы, образованной 16-ю площадками, “фигурным” излучением (например,в виде однородно засвеченного круга, кольца, и т.п.), применяя тот же метод моделирования, мыаналогичным образом можем сосчитать фотосигналы рассматриваемых 16-ти фотодиодов. Теперьзадача состоит в том, чтобы приблизить использованное для засветки матрицы “фигурное”изображение картиной, образованной однородно (но с разной интенсивностью!) засвеченнымиплощадками.

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.
Having issues? You can contact us here