z-logo
open-access-imgOpen Access
Супер-разрешение без микросканирования: восстановление субпиксельных изображений из фотосигналов окрестных диодов матрицы как некорректно поставленная задача
Author(s) -
В.А. Стучинский,
А.В. Вишняков
Publication year - 2021
Publication title -
фотоника-2021 : тезисы докладов российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники
Language(s) - Russian
DOI - 10.34077/rcsp2021-144
Subject(s) - political science
В настоящей работе изучался следующий алгоритм восстановления СИ в фотоприемных матрицах,базирующийся на использовании в них фотоэлектрической связи между фотоэлементами. Полагаем,что подлежащее регистрации изображение сосредоточено в области между четырьмя диодамиматрицы. Мы разбиваем эту область на 4x4 квадратных площадок, - и, моделируя диффузиюфотогенерированных носителей заряда (ФНЗ) в матрице методом Монте-Карло [1], вычисляемфотосигналы 4x4 окрестных диодов при однородном освещении светом каждой из площадок. Приосвещении фрагмента матрицы, образованной 16-ю площадками, “фигурным” излучением (например,в виде однородно засвеченного круга, кольца, и т.п.), применяя тот же метод моделирования, мыаналогичным образом можем сосчитать фотосигналы рассматриваемых 16-ти фотодиодов. Теперьзадача состоит в том, чтобы приблизить использованное для засветки матрицы “фигурное”изображение картиной, образованной однородно (но с разной интенсивностью!) засвеченнымиплощадками.

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.
Having issues? You can contact us here
Accelerating Research

Address

John Eccles House
Robert Robinson Avenue,
Oxford Science Park, Oxford
OX4 4GP, United Kingdom