z-logo
open-access-imgOpen Access
Методика определения клиновидности плоскопараллельной пластинки (в дополнение к методике настройки микросканера на базе плоскопараллельной пластинки)
Publication year - 2019
Publication title -
тезисы докладов российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «фотоника-2019»
Language(s) - Russian
DOI - 10.34077/rcsp2019-176
Subject(s) - medicine
Настройка микросканера (МС) на базе плоскопараллельной пластинки (ППС) требует учётаклиновидности. Вклад в смещение проекции внешней сцены паразитным оптическим клином, можетоказаться больше чем вклад, который могла бы дать идеальная плоскопараллельная пластинка припрочих равных условиях. Значение сдвига вносимого клином зависит от точности изготовления ППС.Если производитель и уложился в допуски при производстве пластинки, итоговое значениеклиновидности каждого германиевого стекла необходимо считать отдельно не сводя клиновидность кпогрешности расчётов. Как показал опыт настройки, клиновидность ППС модно считатьпогрешностью, в пределах 5%, при смещении проекции до 100 мкм, если клиновидность стекласоставляет менее 10 секунд. Технологически изготовить такое изделие может не каждоеспециализированное оборудование. Именно по этой причине определение клиновидностинеобходимо рассматривать как отдельную процедуру. В видимом диапазоне волнового спектра, дляопределения угла клиновидности ППС, используется интерференционные методы. В ИК диапазоне,практически доступных, эффективных методов нет.Предлагается методика определения угла клина германиевой пластинки. Привлекательностьметода состоит в простоте процедур измерения и доступности оборудования. Рис.1Измерительный стенд схематично изображен на рис.1. В его состав входят: диодный лазер; экрандля фиксации положения следа луча; подложка из оконного стекла; германиевая пластинка; рулеткадля замера расстояния от экрана до середины германиевого стекла.Все вычисления проводятся в отражённом свете. На устойчивую поверхность горизонтальноустанавливается подложка (степень горизонтальности не критична). На подложку кладётсягерманиевая пластинка и обводится маркером. Направив в середину ППС луч лазера (точка А), наэкране получим след. Вращение германиевой пластинки, без выхода за отмеченную маркеромграницу, приводит к колебанию следа лазера из самого высокой точки 1 в самую низкую точку 2 иобратно. Замерим расстояние АВ (порядка 10 метров) и интервал между точками 1 и 2. Допустим, чтотреугольник АВС прямоугольный. После проведения несложных преобразований уголклиновидности θ будет равен: =14ВАВМетод позволяет получить приемлемую точность при его использовании в рамках методикинастройки микросканера. Относительная погрешность в смещении проекции сцены, прииспользовании данных о клине полученных изложенным методом, не превышает 10 %.

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.
Having issues? You can contact us here