Фотоприемник ультрафиолетового излучения на основе Au-Ga2O3(Fe)-n-GaAs0.6 P0.4 наноструктур
Author(s) -
D. Melebaev,
И Туджанова,
Т Пащыкова,
Сапармырат Туркменбаши
Publication year - 2019
Publication title -
тезисы докладов российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «фотоника-2019»
Language(s) - Russian
DOI - 10.34077/rcsp2019-147
Subject(s) - materials science , analytical chemistry (journal) , chemistry , environmental chemistry
Широкозонное бинарное соединение оксид галлия Ga2O3 вызывает большой интерес в качественового материала для микро- и наноэлектроники и уже используется в ультрафиолетовой (УФ)нанофотоэлектронике [1,2].Настоящая работа посвящена исследованиям фоточувствительности (ФЧ) Au-Ga2O3(Fe)-nGaAs0.6P0.4 наноструктур в области энергии фотонов hν=1.5-6.1 eV с целью создания фотоприемниковУФ излучения, а так же определения ширины запрещенной зоны оксида Ga2O3 (Egox), легированногожелезом (Fe), и выяснению его влияния на спектр фототока барьеров Шоттки. Для изготовленияфотоприемников на основе n-GaAs0.6P0.4 использовалась технология, аналогичная описанной в [2].После химического травления смесью Br2(4%)+C2H5OH(96%) c последующей промывкой в этаноле,поверхность n-GaAs0.6P0.4 обрабатывалась этаноловым раствором бромида железа (FeBr2.6H2O).Наноструктуры Au-Ga2O3(Fe)-n-GaAs0.6P0.4 изготовлены методом химического осаждения.Присутствие атомов железа (Fe) в оксидном слое Ga2O3(Fe) было установлено с помощью растровогомикроскопа и фотоэлектрическим методом.Основные результаты проиллюстрированы на рис. а, б, в.В УФ области спектра обнаружены новые закономерности. В интервале 3.2-4.2 eV имеетсяучасток практически постоянной ФЧ (SI ≈ 0,15-0,18 A/Вт). На интервале 4.2-5.1 eV с увеличением hνФЧ уменьшается и при hν=5,1 eV наблюдается минимум ФЧ. На интервале 5.1-6.1 eV опятьпроисходит рост ФЧ с увеличением hν. При освещении hν>5 eV в GaAs0.6P0.4 МДП наноструктуреначинается процесс лавинного умножения носителей заряда и слой диэлектрика [Ga2O3(Fe)]участвует в создании дополнительного фототока.Зависимость фототока If0 в интервале 5.1-6.1 eV оказалась экспоненциальной. Это позволяет пометодике, описанной в [1], определить Egox оксида Ga2O3(Fe), образованного на поверхностиGaAs0.6P0.4 (рис.в). Таким образом, образование на поверхности n-GaAs0.6P0.4 нанооксидного слояжелеза Ga2O3(Fe), создает в наноструктуре Au-Ga2O3(Fe)-n-GaAs0.6P0.4 специфические свойства,имеющие важное научно-практическое значение (рис. б).
Accelerating Research
Robert Robinson Avenue,
Oxford Science Park, Oxford
OX4 4GP, United Kingdom
Address
John Eccles HouseRobert Robinson Avenue,
Oxford Science Park, Oxford
OX4 4GP, United Kingdom