
Экспрессная характеризация кристаллического совершенства структур CdхHg1-xTe методом генерации на отражение второй гармоники зондирующего излучения
Publication year - 2019
Publication title -
тезисы докладов российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «фотоника-2019»
Language(s) - Russian
DOI - 10.34077/rcsp2019-119
Subject(s) - chemistry , physics
Представлены сравнительные результаты численного моделирования и эксперимента прирегистрации азимутальных угловых зависимостей сигнала отраженной от структур CdхHg1-xTe второйгармоники при нормальном падении на образец зондирующего лазерного излучения и азимутальномвращении плоскости его поляризации. Оценены возможности получения количественной икачественной информации о кристаллическом совершенстве слоев CdхHg1-xTe.