Open Accessتقدير متوسط حجم العينة ونسبة المعيب في المعاينة المفردة المبتورة مع تطبيق عملي
Author(s) -
اسامة محمد جاسم
Publication year - 2009
Publication title -
mağallaẗ al-ʿulūm al-iqtiṣādiyyaẗ wa-al-idāriyyaẗ
Language(s) - Arabic
Resource type - Journals
eISSN - 2518-5764
pISSN - 2227-703X
DOI - 10.33095/jeas.v15i54.1173
Subject(s) - computer science
يستخدم فحص المعاينة عندما نقّيم نوعية المنتج بواسطة العينات بدلاُ من الفحص الشامل الذي يؤدي إلى زيادة التكاليف والوقت المطلوب، إضافة إلى إمكانية تلف الوحدات خاصة في حالات الفحص ألتدميري مثل فحص الصور الفوتوغرافية، والمطبوعات، وغيرها، ولتخفيض كمية الفحص، من الضروري استخدام الفحص المبتور كأحد الأساليب المهمة التي اعتمدت في مجال السيطرة النوعية، ويعتبر مفهوم معدل حجم العينة (ASN) من المفاهيم المهمة في هذا النوع من الفحص، إضافة إلى نسبة المعيب في المنتج، لذلك سنحاول اشتقاق صيغة مبسطة لمعدل حجم العينة، وكذلك اشتقاق مقدر لنسبة المعيب في حالة المعاينة المبتورة باستخدام طريقة الإمكان الأعظم وسوف نوضح كل الرموز والعلاقات الضرورية للحصول على المقّدر وكذلك على صيغة مبسطة لمعدل حجم العينة وهو ما يمثل هدف بحثنا هذا.