Desain Sistem Functional Test RFID Chips Array untuk Proses Manufaktur Smart Card pada TFME Politeknik Negeri Batam

Proses pengembangan dan produksi smart card dilakukan pada Teaching Factory Manufacturing of Electronics (TFME) Politeknik Negeri Batam. Pada proses produksi smart card perlu dikembangkan sistem pengujian sample untuk memastikan hasil wiring dan proses die attach berhasil yang ditandai dengan komunikasi antara chip dan RFID reader (13,56 MHz). Pendekatan yang dilakukan adalah merancang sistem uji fungsi RFID otomatis dengan memanfaatkan pergerakan tiga axis dan mini probe yang melekat pada pad sambungan wire bond dan die. Metode yang digunakan pada penelitian ini terdiri dari perancangan mekanik, perancangan elektrik, perancangan perangkat lunak, dan pengujian sistem. Resistansi probe RFID memiliki resistansi 1,8 Ohm. Pergerakan setiap axis menggunakan motor stepper yang dikopling dengan ulir linear T8 2pitch 4star. Torsi yang terukur pada axis x, y, dan z adalah 4.64 N.mm, 59,54 N.mm, dan 10,72 N.mm pada saat stepper bergerak maju.