Open AccessDEPÓSITO Y CARACTERIZACIÓN DE PELÍCULAS DOPADAS DE A-SI:H (TIPO N O TIPO P)
Author(s) -
Ana Carolina Sarmiento Chávez,
Mario Moreno,
Alfonso Torres Jacacome,
Abel García Barrientos,
Jairo Plaza Casastillo
Publication year - 2016
Publication title -
revista eia
Language(s) - Spanish
Resource type - Journals
eISSN - 2463-0950
pISSN - 1794-1237
DOI - 10.24050/reia.v12i2.962
Subject(s) - physics , humanities , art
El silicio amorfo hidrogenado (a-Si:H) surge como un material prometedor en la industria fotovoltaica gracias a su alto coeficiente de absorción y a su bajo costo de producción. En este trabajo se estudiaron las propiedades ópticas y eléctricas de películas de a-Si:H dopadas tipo p y tipo n tales como: transmitancia, coeficiente de absorción, conductividad, energía de activación y espesor. Dichas películas se fabricaron mediante la técnica Depósito Químico en fase Vapor Asistido por Plasma (PECVD, por su sigla en inglés) a baja frecuencia con una temperatura de sustrato de 300 °C, variando el flujo de hidrógeno y de los gases dopantes. La caracterización de las películas se hizo mediante las técnicas de caracterización eléctrica, transmisión óptica y elipsometría UV – Visible. Los resultados muestran que el silicio amorfo hidrogenado es una buena alternativa para la fabricación de dispositivos fotovoltaicos.