X-ışını Kırınımı (XRD) ve Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) Kullanılarak Kaynaklanan Göknar, Meşe ve Kestane Odununun Yapısal Karakterizasyonu | Zendy

AI Assistant Blog Pricing

Open Access

X-ışını Kırınımı (XRD) ve Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) Kullanılarak Kaynaklanan Göknar, Meşe ve Kestane Odununun Yapısal Karakterizasyonu

Author(s) -

Mustafa Zor,

Hızır Volkan Görgün,

Mojgan VAZİRİ

Publication year - 2021

Publication title -

bartın orman fakültesi dergisi

Language(s) - Turkish

Resource type - Journals

eISSN - 1308-5875

pISSN - 1302-0943

DOI - 10.24011/barofd.989542

Subject(s) - physics , microbiology and biotechnology , mathematics , chemistry , biology

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.

Having issues? You can contact us here

Accelerating Research

Address

John Eccles House
Robert Robinson Avenue,
Oxford Science Park, Oxford
OX4 4GP, United Kingdom

About

About Careers Publisher Partners Contact Us Get Organisational Trial or Quote

Learn

FAQs Blog Terms of Use Privacy Policy

Download the Zendy App

Download on the

Discover

Explore

Copyright Knowledge E © 2026. All Rights Reserved.