Open AccessStatistical Operational Control of Tantalum Electrolytic Capacitors by Using Multifactorial Model
Author(s) -
E. A. Belyaeva
Publication year - 2021
Publication title -
vestnik iževskogo gosudarstvennogo tehničeskogo universiteta/vestnik ižgtu imeni m.t. kalašnikova
Language(s) - Russian
Resource type - Journals
eISSN - 2413-1172
pISSN - 1813-7903
DOI - 10.22213/2413-1172-2021-2-105-113
Subject(s) - tantalum capacitor , tantalum , electrolytic capacitor , electrolyte , capacitor , computer science , econometrics , reliability engineering , materials science , engineering , metallurgy , chemistry , electrical engineering , mathematics , voltage , electrode
С использованием метода статистического дискретного наблюдения получены результаты анализа качества приварки катодного вывода танталовых конденсаторов с жидким электролитом. Базисными информативными показателями установлены баллы качества, рассчитанные по разработанной методике системного межэтапного анализа качества конденсаторов (см. работы в журнале «Вестник ИжГТУ имени М. Т. Калашникова» за 2018 г.). Проведены верификационные экспериментальные исследования для танталовых конденсаторов с твердым электролитом по разработанному методу системного контроля технологического процесса танталовых электролитических конденсаторов с построением многофакторной модели. В результате исследований установлено наличие отклонения твердоэлектролитических конденсаторов по параметрическому несоответствию тока утечки. Для проведения многофакторного эксперимента выбран процесс изготовления объемно-пористого танталового анодного электрода. Построена регрессионная математическая модель процесса изготовления танталового анода в зависимости от факторов прессования, спекания и электрохимического оксидирования. В сформированной математической модели обнаружено наиболее сильное параметрическое влияние на характеристику «ток утечки» плотности прессования и напряжения оксидирования, а также совокупного фактора плотности прессования и температуры спекания; имеется также незначительное влияние температуры и совокупности факторов температуры и напряжения оксидирования. Разработанный метод системного контроля технологического процесса танталовых электролитических конденсаторов с использованием многофакторной модели позволяет минимизировать отказы танталовых конденсаторов на входном контроле и в аппаратуре заказчика.