Open AccessАccelerated Tests of the Storageability of Tantalum Capacitors Using the Thermal Method
Author(s) -
V.А. Kuznetsova,
В. В. Муравьев
Publication year - 2018
Publication title -
vestnik iževskogo gosudarstvennogo tehničeskogo universiteta/vestnik ižgtu imeni m.t. kalašnikova
Language(s) - Russian
Resource type - Journals
eISSN - 2413-1172
pISSN - 1813-7903
DOI - 10.22213/2413-1172-2018-1-82-88
Subject(s) - tantalum , tantalum capacitor , capacitor , materials science , thermal , metallurgy , nuclear engineering , composite material , electrical engineering , engineering , physics , thermodynamics , voltage , electrolytic capacitor
С помощью ускоренного метода оценки сохраняемости конденсаторов на основе воздействия повышенной температуры среды без приложения электрической нагрузки проведены исследования на стадии производства. При проведении ускоренных испытаний при температуре 398 К (125 ºС) на конденсатор без приложения к нему электрического напряжения происходит старение оксидного слоя на танталовом аноде конденсатора. Приведена методика расчета длительности ускоренных испытаний, которая составила 28,18 ч. Испытаны 5 различных номиналов по 45 штук в каждой из 3 выборок танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов и 2 выборки танталовых объемно-пористых конденсаторов для выявления некачественной продукции. В процессе испытаний, соответствующих годовым циклам до 30 лет, проводились измерения параметров-критериев годности: емкости, тангенса угла потерь, тока утечки, эквивалентного последовательного сопротивления конденсаторов. Из приведенных зависимостей установлено, что в процессе хранения некоторые параметры претерпевают изменения к окончанию срока хранения, имитирующему срок более 25 лет. Отклонение от монотонной зависимости для всех выборок связаны с критическими моментами воздействия тепла. Отмечено, что наибольшие изменения претерпевает параметр тока утечки; другие параметры находятся в пределах нормы.