Open AccessНовый метод изображения микрообъектов в синхротронном излучении с использованием нанофокусировки и томографии
Author(s) -
В.Г. Кон,
Т.С. Аргунова
Publication year - 2022
Publication title -
pisʹma v žurnal tehničeskoj fiziki
Language(s) - Russian
Resource type - Journals
eISSN - 1726-7471
pISSN - 0320-0116
DOI - 10.21883/pjtf.2022.19.53593.19333
Subject(s) - optics , synchrotron radiation , silicon carbide , lens (geology) , beam (structure) , high contrast , silicon , division (mathematics) , materials science , absorption (acoustics) , physics , optoelectronics , mathematics , arithmetic , metallurgy