
Экспресс-характеризация волноводных гетероструктур с квантовыми ямами HgCdTe/CdHgTe с квазирелятивистcким законом дисперсии носителей методом спектроскопии фотолюминесценции при комнатной температуре
Author(s) -
С.В. Морозов,
В. В. Уточкин,
В.В. Румянцев,
М. А. Фадеев,
А. А. Разова,
В.Я. Алешкин,
В. И. Гавриленко,
N. N. Mikhaĭlov,
С. А. Дворецкий
Publication year - 2021
Publication title -
pisʹma v žurnal tehničeskoj fiziki
Language(s) - English
Resource type - Journals
eISSN - 1726-7471
pISSN - 0320-0116
DOI - 10.21883/pjtf.2021.03.50578.18603
Subject(s) - photoluminescence , photoconductivity , materials science , optoelectronics , heterojunction , characterization (materials science) , luminescence , spectral line , nanotechnology , physics , astronomy
We condiser express technique for characterization of narrow-band waveguide HgCdTe/CdHgTe QW heterostructures based on analysis of luminescence spectra at room temperature. We discuss advantages and limitations of this technique in comparison with more detailed diagnostic techniques implying photoluminescence and photoconductivity spectra measurement in wide temperature range.