
Анализ рассеяния на тонком диэлектрическом цилиндре при помощи метода диаграммных уравнений
Author(s) -
Д.Б. Демин,
А.И. Клеев,
А.Г. Кюркчан
Publication year - 2020
Publication title -
žurnal tehničeskoj fiziki
Language(s) - Russian
Resource type - Journals
eISSN - 1726-748X
pISSN - 0044-4642
DOI - 10.21883/os.2020.05.49322.343-19
Subject(s) - computer science
Развита методика приближенного расчета характеристик рассеяния, основанная на использовании метода диаграммных уравнений (МДУ). Получены явные формулы для интегральных характеристик рассеяния, применимые для тонких диэлектрических цилиндров довольно произвольного поперечного сечения. Применимость полученных соотношений проанализирована на примерах рассеяния на эллиптическом цилиндре, на цилиндре, поперечное сечение которого имеет форму суперэллипса, многоугольника и многолистника. Как показывают приведенные результаты, полученные приближенные соотношения обладают достаточной точностью в широком диапазоне параметров задачи. Ключевые слова: рассеяние света на малых частицах, приближение Релея, метод диаграммных уравнений, рассеяние электромагнитных волн, численные методы теории дифракции.