Пространственные характеристики сверхпроводников и 3D-холловский микроскоп для их исследования

На основе преобразователей Холла разработан растровый микроскоп с площадью обзора 5x5 mm и с его помощью с высокими пространственным разрешением и чувствительностью измерена топология магнитного поля B(X,Y,Z) на поверхности и вокруг образцов YBa 2 Cu 3 O 7-x и Bi 2 Sr 2 CaCu 2 O 8+x без применения формул электродинамики. Дифференциальная методика с фиксацией начала и конца перемещения датчика обеспечивала точность сканирования по осям XY,Z ~10 и ~1 μm соответственно в грубом и плавном диапазонах. Максимальный размер перемещения по оси Z составлял 25 mm. Для устранения ошибок измерения нормированные распределения B(Z)/B max (0) были экстраполированы к оси ординат, смещенной по оси Z на величину зазора между поверхностью образца и преобразователем Холла. Ключевые слова: 3D-холловский микроскоп, ВТСП, двойникование, преобразователь Холла.