
Исследование структуры ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на поверхности SiO-=SUB=-2-=/SUB=-/Si(001)
Author(s) -
В. В. Балашев,
В. В. Коробцов
Publication year - 2018
Publication title -
žurnal tehničeskoj fiziki
Language(s) - Uncategorized
Resource type - Journals
eISSN - 1726-748X
pISSN - 0044-4642
DOI - 10.21883/jtf.2018.01.45485.2314
Subject(s) - materials science , silicon , mineralogy , chemistry , optoelectronics