Моделирование структурного состояния аморфных фаз наноразмерного SiO-=SUB=-2-=/SUB=-, синтезированного различными методами

Методами рентгеноструктурного анализа и имитационного моделирования исследовано структурное состояние наноразмерного SiO 2 . Проведено сравнение наночастиц аэросила и наночастиц, синтезированных методом испарения электронным пучком. Показано, что наночастицы всех образцов находятся в аморфном состоянии. Методом молекулярной динамики проведено моделирование аморфного состояния элементарной ячейки фазы SiO 2 . В результате полнопрофильного уточнения параметров модельной фазы SiO 2 (метод Ритвельда) установлена полная структурная информация при вариации удельной поверхности. Определены параметры примитивных ячеек, пространственное распределение атомов, занятость узлов ячеек. Показано, что в наночастицах аэросила с ростом энергии связи атомов в ячейке удельная поверхность снижается, а в наночастицах таркосила возрастает. Работа выполнена в рамках проектной части государственного задания в сфере научной деятельности (задание N 16.1930.2014/К). DOI: 10.21883/FTT.2017.09.44860.428