Сравнительный анализ толщины и электрической проводимости тонких халькогенидных полупроводниковых пленок | Zendy

В.В. Даньшина | Zendy; Л.Ф. Калистратова | Zendy

AI Assistant Blog Pricing

Home ZAIA Blog

Open Access

Сравнительный анализ толщины и электрической проводимости тонких халькогенидных полупроводниковых пленок

Author(s) -

В.В. Даньшина,

Л.Ф. Калистратова

Publication year - 2017

Publication title -

физика твердого тела

Language(s) - Russian

Resource type - Journals

eISSN - 1726-7498

pISSN - 0367-3294

DOI - 10.21883/ftt.2017.01.43970.174

Subject(s) - mathematics

Проведено рентгенографическое исследование структуры и толщины полупроводниковых пленок халькогенидов цинка и кадмия. Показано, что толщина пленок соизмерима с глубиной половинного слоя ослабления рентгеновских лучей. При нагревании в атмосфере водорода электрическая проводимость пленок увеличивается, а при нагревании в оксиде углерода уменьшается. Получена противоположная тенденция в соотношении величин электрической проводимости и ширины запрещенной зоны исходной и окисленной поверхностей пленок. DOI: 10.21883/FTT.2017.01.43970.174

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.

Having issues? You can contact us here

Accelerating Research