Релаксация тока в Si-=SUB=-3-=/SUB=-N-=SUB=-4-=/SUB=-: эксперимент и численное моделирование | Zendy

Ю.Н. Новиков | Zendy; V. A. Gritsenko | Zendy

AI Assistant Blog Pricing

Home ZAIA Blog

Open Access

Релаксация тока в Si-=SUB=-3-=/SUB=-N-=SUB=-4-=/SUB=-: эксперимент и численное моделирование

Author(s) -

Ю.Н. Новиков,

V. A. Gritsenko

Publication year - 2017

Publication title -

физика твердого тела

Language(s) - Russian

Resource type - Journals

eISSN - 1726-7498

pISSN - 0367-3294

DOI - 10.21883/ftt.2017.01.43949.234

Subject(s) - materials science , physics , crystallography , chemistry

Экспериментально измерена релаксация тока в структуре металл-нитрид-оксид-полупроводник. Эксперимент сравнивается с расчетом, основанным на двухзонной модели проводимости и многофононном механизме ионизации ловушек. Из сравнения эксперимента с расчетом для величины сечения рекомбинации получена оценка сверху, которая составила 5· 10 -13 cm 2 . DOI: 10.21883/FTT.2017.01.43949.234

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.

Having issues? You can contact us here

Accelerating Research