
Состав и электронная структура скрытых наноразмерных фаз и слоев BaSi-=SUB=-2-=/SUB=-, созданных в приповерхностной области Si
Author(s) -
Б.Е. Умирзаков,
М.Т. Нормурадов,
Д.А. Нормуродов,
I. R. Bekpulatov
Publication year - 2022
Publication title -
fizika i tehnika poluprovodnikov
Language(s) - Russian
Resource type - Journals
eISSN - 1726-7315
pISSN - 0015-3222
DOI - 10.21883/ftp.2022.05.52351.9795
Subject(s) - silicon , materials science , metallurgy
Впервые методом имплантации ионов Ва + с энергией E 0 =20-30 кэВ в приповерхностном слое Si(111) получены наноразмерные фазы и слои BaSi 2 . В частности, показано, что при дозе D~ 10 15 см -2 формируются нанофазы с шириной запрещенной зоны E g ~0.85 эВ, а при D~10 17 см -2 нанослой BaSi 2 с E g =0.67 эВ. Состав и структура наноструктуры дисилицида бария были исследованы спектроскопией поглощения света методами электронной оже-спектроскопии, а рентгеновская морфология поверхности изучалась методом растровой электронной микроскопии. Установлены оптимальные режимы ионной имплантации и отжига для получения наноразмерных фаз и слоев BaSi 2 в приповерхностной области Si. С использованием метода спектроскопии поглощения света оценены ширина запрещенных зон и степень покрытия слоя нанофазами BaSi 2 . Показано, что при дозе D≥ 6·10 16 см -2 формируется нанослой BaSi 2 . Ключевые слова: ионная имплантация, наноструктура, нанофаза, отжиг, дисилицид бария, оже-электроны, степень покрытия.