
Сравнительные объемные и поверхностные свойства полупроводниковых твердых растворов систем InB-=SUP=-V-=/SUP=--ZnS
Author(s) -
И. А. Кировская,
R. V. Ekkert,
И Ю Уманский,
А. О. Ekkert,
О. В. Кропотин
Publication year - 2020
Publication title -
fizika i tehnika poluprovodnikov
Language(s) - Russian
Resource type - Journals
eISSN - 1726-7315
pISSN - 0015-3222
DOI - 10.21883/ftp.2020.11.50093.9470
Subject(s) - materials science , radiochemistry , chemistry , nuclear chemistry
В одинаковых условиях изучены объемные (кристаллохимические, структурные) и поверхностные (кислотно-основные) свойства полупроводниковых твердых растворов систем InB V -ZnS, отличающихся бинарными компонентами A III B V (InP, InAs). Установлены и обоснованы закономерности изменений изученных свойств с составом, которые носят преимущественно статистический (плавный) характер в системе InP-ZnS и с экстремальными проявлениями в системе InAs-ZnS. Исходные (экспонированные на воздухе) поверхности твердых растворов, как и бинарных компонентов систем, имеют слабокислый характер (pH iso < 7), что позволяет говорить об их повышенной активности по отношению к основным газам. Высказаны и подтверждены соображения о природе активных (кислотно-основных) центров. Установлена связь между поверхностными и объемными свойствами твердых растворов, открывающая возможности прогнозирования и менее затратного поиска новых, эффективных материалов для полупроводникового газового анализа без трудоемких исследований поверхностных свойств. Ключевые слова: полупроводники, твердые растворы, новые материалы, объемные и поверхностные свойства, взаимосвязанные закономерности, полупроводниковый газовый анализ.