
XV Международная конференция "Термоэлектрики и их применения --- 2016", Санкт-Петербург, 15-16 ноября 2016 г. Анализ кристаллической структуры сплавов семейства [(Ge,Sn,Pb)(Te,Se)]-=SUB=-m-=/SUB=-[(Bi,Sb)-=SUB=-2-=/SUB=-(Te,Se)-=SUB=-3-=/SUB=-]-=SUB=-n-=/SUB=- (m,n=0,1,2,...) в рамках теории плотнейших шаровых упаковок
Author(s) -
M. A. Korzhuev,
А. В. Михайлова,
M. A. Kretova,
E. S. Avilov
Publication year - 2017
Publication title -
fizika i tehnika poluprovodnikov
Language(s) - Russian
Resource type - Journals
eISSN - 1726-7315
pISSN - 0015-3222
DOI - 10.21883/ftp.2017.08.44774.43
Subject(s) - tellurium , antimony , germanium , physics , crystallography , materials science , chemistry , silicon , metallurgy , optoelectronics
В рамках теории плотнейших шаровых упаковок исследованы процессы формирования сложных кристаллических структур --- слоистых кристаллов тройных сплавов семейства [(Ge,Sn,Pb)(Te,Se)] m [(Bi,Sb) 2 (Te,Se) 3 ] n (m,n=0,1,2,...) с различной симметрией (пространственные группы R3m, P3m 1 и P2 1 /m). Найдено, что структуры слоистых бинарных сплавов типа Bi 2 Te 3 (R3m) и типа PbTe (Fm3m и R3m) являются родственными и формируются на основе триплета s3 с кубической симметрией (Fm3m), образованного атомами халькогенов (Se,Te). DOI: 10.21883/FTP.2017.08.44774.43