Open AccessВлияние примеси самария на структуру и морфологию поверхности халькогенидного стеклообразного полупроводника Se-=SUB=-95-=/SUB=-Te-=SUB=-5-=/SUB=-
Author(s) -
С. И. Мехтиева,
С.У. Атаева,
А. И. Исаев,
В.З. Зейналов
Publication year - 2017
Publication title -
fizika i tehnika poluprovodnikov
Language(s) - Russian
Resource type - Journals
eISSN - 1726-7315
pISSN - 0015-3222
DOI - 10.21883/ftp.2017.06.44561.8228
Subject(s) - file transfer protocol , materials science , crystallography , computer science , chemistry , operating system , the internet
Методами рентгеновской дифракции и атомно-силовой микроскопии исследованы структура и морфология поверхности пленок Se 95 Te 5 , а также влияние на них легирования самарием. C использованием параметров первого резкого дифракционного максимума (FSDP), наблюдаемого в картинах распределения интенсивности дифракции рентгеновских лучей, определены численные значения параметров локальной структуры, в частности "квазипериод" флуктуаций плотности, длина корреляции, диаметры нанопустот. Кроме того, определены численные значения амплитудных параметров шероховатости поверхности. Установлено, что с увеличением процентного содержания примеси самария наблюдается рост разупорядочения в атомной структуре и рост неоднородностей на поверхности исследуемых пленок. DOI: 10.21883/FTP.2017.06.44561.8228