z-logo
open-access-imgOpen Access
Исследование параметров наноразмерного слоя в наногетероструктурах на основе полупроводниковых соединений A-=SUP=-II-=/SUP=-B-=SUP=-VI-=/SUP=--=SUP=- 1-=/SUP=-
Author(s) -
М.Б. Караваев,
Д.А. Кириленко,
Е.В. Иванова,
Т.Б. Попова,
A. А. Ситникова,
И.В. Седова,
М.В. Заморянская
Publication year - 2016
Publication title -
физика и техника полупроводников
Language(s) - Russian
Resource type - Journals
eISSN - 1726-7315
pISSN - 0015-3222
DOI - 10.21883/ftp.2016.12.44082.8249
Subject(s) - physics , radiochemistry , chemistry
Методами локальной катодолюминесценции и рентгеноспектрального микроанализа проведено комплексное исследование широкозонных наногетероструктур на основе ZnSe, полученных методом молекулярно-пучковой эпитаксии. Было показано, что используемые методы позволяют неразрушающим способом определять глубину залегания, элементный состав и геометрические параметры наноразмерного слоя ZnCdSe. Точность результатов контролировалась методом просвечивающей электронной микроскопии. Методики исследования основаны на возможности варьирования энергии первичного электронного пучка, что приводит к изменению областей генерации характеристического рентгеновского излучения и катодолюминесценции. DOI: 10.21883/FTP.2017.01.8249

The content you want is available to Zendy users.

Already have an account? Click here to sign in.
Having issues? You can contact us here
Accelerating Research

Address

John Eccles House
Robert Robinson Avenue,
Oxford Science Park, Oxford
OX4 4GP, United Kingdom