Open AccessObtenção da Imagem de Defeitos em Materiais por Mapeamento Elétrico
Author(s) -
Gil Pinheiro,
Victor Gomes Silva,
José Antônio da Cunha Ponciano Gomes,
Jorge Amaral,
George Leandro dos Santos Pinto
Publication year - 2019
Publication title -
anais do 14º simpósio brasileiro de automação inteligente
Language(s) - Portuguese
Resource type - Conference proceedings
DOI - 10.17648/sbai-2019-111545
Subject(s) - computer science