Testes não destrutivos para upscreening de transistor com qualificação militar e fora do prazo de relifing

Este trabalho teve como objetivo apresentar a verificação da possibilidade de uso espacial de um lote de 50 transistores JANTX2N2905A com qualificação militar que não foi utilizado no prazo para a sua montagem em placa eletrônica. Para tal, em concordância com normas espaciais estabelecidas, foi desenvolvida uma metodologia com a combinação entre os testes do procedimento de relifing, que checam a confiabilidade de componentes eletrônicos estocados por um longo período, e os testes para a técnica de upscreening, usada para averiguar a possibilidade da aplicação espacial de componentes eletrônicos que não são formalmente qualificados para essa finalidade. Com isso, foram obtidos resultados satisfatórios perante os testes não destrutivos realizados.