Open AccessDependencia en energía de la producción de picos de escape en espectroscopia de fluorescencia de rayos-X dispersiva en energía
Author(s) -
Jorge A. Bravo Cabrejos
Publication year - 2015
Publication title -
revista de investigación de física/revista de investigación de física
Language(s) - Spanish
Resource type - Journals
eISSN - 1728-2977
pISSN - 1605-7724
DOI - 10.15381/rif.v18i1.11575
Subject(s) - physics , humanities , art
Se presenta el modelo teórico para calcular la energía e intensidad relativa de los picos de escape correspondientes a los rayos-X característicos presentes en un espectro de fluorescencia de rayos-X dispersiva en energía (FRXDE). Los picos de escape de elementos presentes en una muestra en alta concentración interfieren con la identificación de rayos-X característicos de elementos presentes en muy baja concentración. El resultado de este análisis se utiliza para simular con buenos resultados la presencia de los picos de escape de una muestra de ceniza de madera que contiene K y Ca en alta concentración