Open AccessMonitoreo del contenido de argón en los materiales
Author(s) -
Jorge A. Bravo Cabrejos,
Miriam E. Mejía Santillan
Publication year - 2013
Publication title -
revista de investigación de física/revista de investigación de física
Language(s) - Spanish
Resource type - Journals
eISSN - 1728-2977
pISSN - 1605-7724
DOI - 10.15381/rif.v16i01.8657
Subject(s) - physics , humanities , philosophy
Se reporta la posibilidad de monitorear de manera cuantitativa la presencia de argón en la capasuperficial de los materiales utilizando la emisión fluorescente de los rayos-X característicos tipo K deargón producidos por irradiación de la superficie del material con rayos X de baja energía. La bajaenergía de estos rayos-X K, 2.97 keV, hace posible monitorear la presencia de este elemento hasta unaprofundidad de unos 5 micrones.